KeithleyS535參數(shù)化測試系統(tǒng)
S535 特點
- 在多站點并行或連續(xù)運行中自動執(zhí)行所有晶片級直流參數(shù)測試。觸摸一次探頭測試兩個或四個站點。
- 多達 64 根測試針:并行測試四個站點,每個站點 16 根針;并行測試兩個站點,每個站點 32 根針;連續(xù)測試一個站點,64 根針
- 高達 100 W 運行:1 A 時 100 V;100 mA 時 200 V
- 在高速、多針、*自動的測試環(huán)境中 1 fA、10 nV 分辨率
- 基于 Linux 的 Keithley 測試環(huán)境 (KTE) 系統(tǒng)軟件兼容原有 Keithley 測試系統(tǒng)、支持輕松進行測試開發(fā)和快速執(zhí)行。
- Keithley S530 型探頭卡基礎設施也支持原有的 S400 應用KeithleyS535參數(shù)化測試系統(tǒng)
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